Ключевые слова: MgB2/Fe, wires, measurement technique, X-ray tomography
Ключевые слова: power equipment, railway applications, modeling, numerical analysis, HTS, Bi2223, tapes, cables, dc performance, coated conductors, REBCO, FCL, fault currents, loop
Iijima Y., Higashikawa K., Kiss T., Iwakuma M., Fujita S., Igarashi M., Kurihara C., Nakamura N., Uetsuhara D.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Imamura K., Kitaguchi H., Ibi A., Suzuki T., Uetsuhara D., Onodera Y., Lyu L., TAKASAKI K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes multifilamentary, REBCO, GdBCO, coated conductors, transport currents, thermal stability, comparison, heat loads, overcurrent, critical caracteristics, current-voltage characteristics, flux flow, dissipative properties, numerical analysis, modeling, current sharing, thermal runaway, local distribution, critical current, homogeneity
Nakamura T., Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Inoue M., Takahashi Y., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Hironaga R.
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Hasegawa T., Imamura K., Takahashi Y., Koizumi T., Tanaka K., Yoshizumi M., Kimura K., Inoue M
Ключевые слова: HTS, YGdBCO, coated conductors, pinning centers artificial, TFA-MOD process, long conductors, nanoscaled effects, substrate Hastelloy, IBAD process, critical caracteristics, current-voltage characteristics, critical current, angular dependence, magnetic field dependence, temperature dependence, transport currents, fabrication, experimental results, length
Hayashi K., Higashikawa K., Kiss T., Tomita M., Inoue M., Furukawa K., Kikuchi M., Kobayashi S.-I., SATO K.-I., Nakashima T., Imado K.
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Imamura K., Tanaka K., Taneda T., Yoshizumi M.
Ключевые слова: HTS, GdBCO, coated conductors, IBAD process, critical caracteristics, doping effect, Jc/B curves, pinning force, experimental results
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., Imamura K., Tanaka K., Yoshizumi M., Inoue M
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Yoshizumi M., Fukuzaki T., Inoue M, Yoshida T., Kamihigoshi M., Uetsuhara D., Nishiura Y.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Ohmatsu K., Konishi M., Machi T., Yoshizumi M., Shingai Y., Katahira K.
Nakamura T., Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Inoue M., Takahashi Y., Kato T., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakanishi T., Hironaga R.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Taneda T., Miyata S., Okumura K., Chikumoto N., Yamamoto A., Ibi A., Yoshizumi M., Tanabe K.
Higashikawa K., Izumi T., Inoue M., Ohmatsu K., Konishi M., Okumura K., Yoshizumi M., Shiohara K., Katahira K.
Higashikawa K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Izumi T., M., T., Yoshizumi M., Y., K., Inoue, Yamaguchi, Sakakibara, Imamura, TobitaH.
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Kato T., Hirayama T., Yoshizumi M., Tobita H., Notoh K.
Higashikawa K., Lee S., Kiss T., Izumi T., Inoue M., Okamoto H., Chikumoto N., Machi T., Tanabe K., Shiohara K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.